上光六厂光切法显微镜9J

上光六厂光切法显微镜9J

  • 品牌 上光六厂|SOIF
  • 型号 9J
  • 商品详情

    显微镜特点:
    显微镜9J是以光切测量另件加工表面的微观不平度。其能判国家标准GB1031-68所规定▽3-▽9级表面光洁度。(表面粗糙度12.5-0.2)对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。

    技术参数:
    1.本仪器在原有的基础上进行了光学系统升级,明场成像更清晰,避免看不清测量读数刻线。
    2.配备粗微动同轴调焦系统,粗动松紧可调,微动格值:2μm,使之更加准确的找到成像面。
    3.一体化结构机身,无需另配变压电源,操作简洁、方便。
    4. 非接触式测量,不会破坏样品表面层,经过计算后确定纹痕的不平度。

    类型 

    9J

    测量范围不平度平均高度值(微米)

    >0.8-1.6

    >1.6-6.3

    >6.3-20

    >20-80

    表面光洁度(级别)

    9

    8~7

    6~5

    4~3

    所需物镜

    60X/0.55

    30X/0.40

    14 X/0.20

    7X/0.12

    总放大倍数

    510X

    260X

    120X

    60X

    物镜组件工作距离(mm)

    0.04

    0.2

    2.5

    9.5

    视场(mm)

    0.3

    0.6

    1.3

    2.5

    摄影装置放大倍数

    约6倍

    测量不平度范围

    (0.8-80)微米

    不平宽度

    用测微目镜:0.7微米-2.5毫米

    用座标工作台:(0.01-13)毫米

    仪器重量约

    23公斤

    外形尺寸(mm)

    约180*290*470毫米