彼爱姆FM-Nainoview 6800AFM原子力显微镜

彼爱姆FM-Nainoview 6800AFM原子力显微镜

  • 品牌 彼爱姆|BM
  • 型号 FM-Nainoview 6800AFM
  • 商品详情

    产品特点

    1. 光机电一体化设计,外形结构简单;

    2. 扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;

    3. 精密激光检测及探针定位装置,光斑调节简单,操作方便;

    4. 采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描;

    5. 伺服马达手动或自动脉冲控制,驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位;

    6. 高精度大范围的样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域;

    7. 高精度大范围的压电陶瓷扫描器,根据不同精度和扫描范围要求选择;

    8. 采用伺服马达控制CCD对焦和光学放大;

    9. 模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护;

    10. 集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用。

    软件特点

    1. 可观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像

    2. 具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式

    3. 多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图

    4. 多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能

    5. 可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域

    6. 激光光斑检测系统的实时调整功能

    7. 针尖共振峰自动和手动搜索功能

    8. 可任意定义扫描图像的色板功能

    9. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能

    10. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正

    11. 支持样品图片离线分析与处理功能

    1. 可观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像

    2. 具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式

    3. 多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图

    4. 多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能

    5. 可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域

    6. 激光光斑检测系统的实时调整功能

    7. 针尖共振峰自动和手动搜索功能

    8. 可任意定义扫描图像的色板功能

    9. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能

    10. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正

    11. 支持样品图片离线分析与处理功能

    技术规格

    名 称 参 数 名 称 参 数
    工作模式

    接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力

    扫描角度 任意
    样品尺寸

    Φ≤90mm,H≤20mm

    样品移动范围 0~20mm
    最大扫描范围 横向50um,纵向5um 光学放大倍数 10X
    扫描分辨率 横向0.2nm,纵向0.05nm 光学分辨率

    1um

    扫描速率 0.6Hz~4.34Hz 图像采样点 256×256,512×512
    扫描控制 XY采用18-bit D/A
    Z采用16-bit D/A
    反馈方式 DSP数字反馈
    数据采样 14-bit A/D、双16-bit A/D
    多路同步采样
    反馈采样速率 64.0KHz
    仪器重量体积 40KG,700´480´450mm 计算机接口 USB2.0
    运行环境 运行于WindowsXP/7/8操作系统